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DE-CR/PST系列芯片环境试验装置

产品简介

微型接触式环境试验平台DE-CR/PST系列芯片环境试验装置针对单颗芯片、微小型样本、单工位多工位探针台接触式温度循环试验量身定制。

产品型号:
更新时间:2025-10-13
厂商性质:生产厂家
访问量:22
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品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保

微型接触式环境试验平台DE-CR/PST系列芯片环境试验装置的特征:

1、定制化

针对单颗芯片、微小型样本、单工位多工位探针台接触式温度循环试验量身定制。

2、自动化

可实现遥控、程控、计算机控制,便于组成自动控制系统。

3、高效、高精度、无振动、无污染设计

防凝露、高精度、高可靠性可连续工作,不需要任何制冷剂无污染,无旋转部件不会产生回转效应,无震动、无噪音运行,安装容易。

4、适用

适用于小型样本、配合探针台高低温分析、晶圆、芯片等器件的温度特性试验。

微型接触式环境试验平台DE-CR/PST系列芯片环境试验装置参数:

型号

DE

CR1000

PST1000

温度

范围

LT4:-40~130℃*1

LT12:-120~130℃可选*1

-269~600℃可选*2

精度

≤±0.1℃

定制

最大温差时间

<1分钟

试验区尺寸L× W  (mm)

43×43、90×50/定制

43×43、90×50、210×150/定制

外形尺寸  L×W×H (mm)

50×50×100、100×60×150/定制

50×50×100、100×60×100、225×165×100/定制

容许的环境条件

+5~35℃

电源规格

220V AC 1ø 50/60Hz

*1直接制冷*2辅助制冷


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